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TEL/FAX: 082-421-4222
TEL/FAX: 082-422-8378(本社),e-mail:
info@a-r-tec.jp
等価サンプル波形測定回路と測定原理
繰り返し雑音波形の測定が可能.
回路構成:レベルシフタ,ラッチコンパレータ.
サンプリングオシロの原理により雑音を検出する.
オンチップ雑音テスト回路
オンチップ雑音検出回路
電圧測定プローブ:チップ上の任意の位置のGND,VDD,SUB(基板).
コンパレータ:6-ch.
レベルシフタ:3.3V → 1.2V,0V → 1.2V.
帯域:〜1GHz.
DAC:6-ch,8bit.
事業内容
アナログ回路設計
高性能アナログIP
高精度/低消費電力ASICの開発
アナログ要素回路の性能追求,チップ試作
先端技術の調査研究
Feasibility Study
P板,モジュールの設計
アナログ設計コンサルティング
アナログ回路の測定,性能評価
ADC,DAC,AmpのDC/AC/Noise測定
LNA,VCO,MIXのNF/Gain/PN/CG測定
CCD/CMOSセンサのGain/Noise測定
トランジスタ単体のDC/AC/Noise測定
恒温槽による温特評価
自動測定系環境構築
プローバによるオン・ウエハ測定
人材育成,OJT
アナログ技術者の育成
OJTプログラム
講習会
基板雑音解析
基板雑音検出回路の設計・試作
基板雑音モデリング
FPNAによる基板雑音解析Sim
基板雑音コンサルティング
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