基板雑音測定テストチップ
RF雑音評価チップ
- 雑音源：TCNS（Transition Controllable Noise Source，遷移制御雑音源）パラメータ：遅延時間，繰り返し周波数
- アナログ回路：PLL1（LC-VCO）, PLL2（Ring-VCO）評価項目：ジッタ，位相雑音
- 雑音検出回路：NDET（レベルシフタ＋ラッチコンパレータ）評価項目:基板電圧，グランド電圧
基板雑音測定テストチップ設計例
雑音評価チップ
- 雑音源：TCNS（Transition Controllable Noise Source，遷移制御雑音源）パラメータ：遅延時間，繰り返し周波数
- アナログ回路：PLL評価項目：基板雑音
- 雑音検出回路：NDET（レベルシフタ＋ラッチコンパレータ）評価項目:電源，グランド電圧
基板雑音評価TEG構成
