基板雑音測定テストチップ

  • 雑音源:TCNS(Transition Controllable Noise Source,遷移制御雑音源)
  • パラメータ:遅延時間,繰り返し周波数
  • アナログ回路:PLL1(LC-VCO), PLL2(Ring-VCO)
    評価項目:ジッタ,位相雑音
  • 雑音検出回路:NDET(レベルシフタ+ラッチコンパレータ)
    評価項目:基板電圧,グランド電圧

基板雑音測定テストチップ設計例

  • 雑音源:TCNS(Transition Controllable Noise Source,遷移制御雑音源)
  • パラメータ:遅延時間,繰り返し周波数
  • アナログ回路:PLL
    評価項目:基板雑音
  • 雑音検出回路:NDET(レベルシフタ+ラッチコンパレータ)
    評価項目:電源,グランド電圧

基板雑音評価TEG構成